[实用新型]一种新型的芯片超薄测试座有效
| 申请号： | 201620753370.7 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN205809113U | 公开（公告）日： | 2016-12-14 |
| 发明（设计）人： | 薛凤枝 | 申请（专利权）人： | 薛凤枝 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 415400 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型的芯片超薄测试座，主要包括测试座板、测试端口、内存芯片、测试端子，所述测试座板上下呈对称分布，所述测试座板中间设置横向槽，槽中间两侧设置有信息传输端，槽边缘两侧均设置有装配卡槽，所述测试座板安装在所述内存芯片正底部，所述测试座板顶面两端均横向分层设置有圆槽状所述测试端口，所述测试端口内部均安装有所述测试端子，所述测试座板端部两侧边缘均设置有半圆状测试塞板。有益效果在于：采用超薄、超精密以及胶件注塑而成的测试座板，配合弹性透软的测试端子对精密芯片进行测试，操作便捷，使用寿命提高，使用非常广泛，而且可重复利用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 芯片 超薄 测试 | ||
【主权项】：
一种新型的芯片超薄测试座，主要包括测试座板、测试端口、内存芯片、测试端子，其特征在于：所述测试座板上下呈对称分布，所述测试座板中间设置横向槽，槽中间两侧设置有信息传输端，槽边缘两侧均设置有装配卡槽，所述测试座板安装在所述内存芯片正底部。
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