[实用新型]一种用于测量石英晶体晶片的治具有效
| 申请号： | 201620674914.0 | 申请日： | 2016-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN205809110U | 公开（公告）日： | 2016-12-14 |
| 发明（设计）人： | 王金涛;杨勇;叶秀忠 | 申请（专利权）人： | 随州泰华电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 441300 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种用于测量石英晶体晶片的治具，包括底座，其特征在于：所述底座之上设置有定位槽，定位槽的另一侧设置有移动夹具，移动夹具包括旋钮开关、摆臂和滑块，旋钮开关与两条摆臂相连，摆臂之间设置有弹簧，摆臂分别与滑块相连，滑块靠近定位槽的两侧设置有测量弹片。本实用新型结构简单、使用方便、参数测量准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 石英 晶体 晶片 | ||
【主权项】：
一种用于测量石英晶体晶片的治具，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）之上设置有定位槽（2），定位槽（2）的另一侧设置有移动夹具（3），移动夹具（3）包括旋钮开关（4）、摆臂（5）和滑块（6），旋钮开关（4）与两条摆臂（5）相连，摆臂（5）之间设置有弹簧（7），摆臂（5）分别与滑块（6）相连，滑块（6）靠近定位槽（2）的两侧设置有测量弹片（8）。
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