[实用新型]一种碳化硅静电感应晶闸管有效
| 申请号: | 201620668441.3 | 申请日: | 2016-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN206210803U | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
| 发明(设计)人: | 李佳;杨小艳;葛明;张林 | 申请(专利权)人: | 长安大学 |
| 主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/47 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 徐文权 |
| 地址: | 710064 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种碳化硅静电感应晶闸管,目的在于,降低器件开态电阻、提升功率特性,结构所采用的技术方案为包括自下而上依次设置的N型欧姆接触电极、N型SiC衬底、P型SiC缓冲层、P型SiC漂移层和P型电流增强层,P型电流增强层上刻蚀形成有若干个台阶,相邻台阶之间设有沟槽,所述台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层,P型SiC欧姆接触层的上部设置有P型欧姆接触电极,P型欧姆接触电极的形状与P型SiC欧姆接触层相同,所述沟槽内设置有肖特基电极,肖特基电极与台阶侧面和沟槽底部均接触,所述N型欧姆接触电极和P型欧姆接触电极均包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述肖特基电极包括依次沉积的Ni层、Cr层和Au层,或者Ti层、Cr层和Au层,或者Pt层、Cr层和Au层。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 静电感应 晶闸管 | ||
【主权项】:
一种碳化硅静电感应晶闸管,其特征在于,包括自下而上依次设置的N型欧姆接触电极(7)、N型SiC衬底(1)、P型SiC缓冲层(2)、P型SiC漂移层(3)和P型电流增强层(4),P型电流增强层(4)上刻蚀形成有若干个台阶,相邻台阶之间设有沟槽,所述台阶顶部设置有P型SiC欧姆接触层(5),P型SiC欧姆接触层(5)的上部设置有P型欧姆接触电极(6),所述沟槽内设置有肖特基电极(8),肖特基电极(8)与台阶侧面和沟槽底部均接触,所述P型SiC漂移层(3)的厚度为材料中空穴扩散长度的0.4~0.9倍,所述P型电流增强层(4)位于沟槽底部的P型电流增强层(4)的厚度为0.5~2μm,所述P型SiC缓冲层(2)的厚度为0.5~2.0μm,所述台阶高度为1.5~3.5μm,台阶宽度为cm的1.0~2.0倍,所述P型欧姆接触层(5)的厚度为0.2~0.5μm,所述P型欧姆接触电极(6)的形状与P型SiC欧姆接触层(5)相同,所述N型欧姆接触电极(7)和P型欧姆接触电极(6)均包括依次沉积的Ni层和Pt层,所述肖特基电极(8)包括依次沉积的Ni层、Cr层和Au层,或者Ti层、Cr层和Au层,或者Pt层、Cr层和Au层,所述P型欧姆接触电极(6)的Ni层厚度为200nm~400nm,Pt层的厚度为50nm~200nm;N型欧姆接触电极(7)的Ni层厚度为200nm~400nm,Pt层厚度为50nm~200nm;肖特基电极(8)的Ni层、Ti层或Pt层的厚度为50~200nm,Cr层厚度为50~100nm,Au层厚度为50~500nm。
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