[实用新型]温度测试装置加热核心机构有效
| 申请号： | 201620648752.3 | 申请日： | 2016-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN205833197U | 公开（公告）日： | 2016-12-28 |
| 发明（设计）人： | 李一楠 | 申请（专利权）人： | 无锡理衍工业自动化有限公司 |
| 主分类号： | B01L7/00 | 分类号： | B01L7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市南长区扬*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型是温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。本实用新型的优点：加热核心机构加装2组共4块PTC加热片，每块单独控制，加热核心机构装有上下两个温度传感器，通过温度变化，可在控制器中演算出测试产品的正确温度；提升了加热散热效率，减少了热量逸散，稳定了测试温度，局部加热散热效率提升100％，控制温度误差为±0.5℃。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测试 装置 加热 核心 机构 | ||
【主权项】：
温度测试装置加热核心机构，其特征包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。
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