[实用新型]用于非金属材料缺陷检测的超声波探头有效
| 申请号： | 201620634652.5 | 申请日： | 2016-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN205749402U | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 张兴斌;房厦;吴静姝 | 申请（专利权）人： | 中冶建筑研究总院有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/24 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 陈攀;王琦 |
| 地址： | 100088 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于非金属材料缺陷检测的超声波探头，包括：外壳、压电陶瓷片和金属片；所述外壳包括顶盖和底壳；所述底壳的一侧设置有出线孔；所述压电陶瓷片设置在顶盖和底壳之间；所述压电陶瓷片的上表面、下表面均为经过镀银以及极化处理后形成的电极；所述压电陶瓷片的上表面与顶盖内壁之间、下表面与底壳内壁之间均设置有金属片；所述金属片上均设置有导线；所述导线从所述出线孔中引出。应用本实用新型可以使用上述超声波探头对非金属材料结构内部的缺陷进行无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 非金属材料 缺陷 检测 超声波 探头 | ||
【主权项】：
一种用于非金属材料缺陷检测的超声波探头，其特征在于，包括：外壳、压电陶瓷片和金属片；所述外壳包括顶盖和底壳；所述底壳的一侧设置有出线孔；所述压电陶瓷片设置在顶盖和底壳之间；所述压电陶瓷片的上、下表面均为经过镀银以及极化处理后形成的电极；所述压电陶瓷片的上表面与顶盖内壁之间、下表面与底壳内壁之间均设置有金属片；所述金属片上均设置有导线；所述导线从所述出线孔中引出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中冶建筑研究总院有限公司，未经中冶建筑研究总院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201620634652.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
