[实用新型]等离子体状态时间特性探测设备有效

专利信息
申请号: 201620581184.X 申请日: 2016-06-15
公开(公告)号: CN205665184U 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 徐强;赵永蓬;王骐 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N23/227 分类号: G01N23/227
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 胡树发
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 等离子体状态时间特性探测设备,涉及毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源技术中等离子体状态时间特性探测技术,目的是为了解决毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源技术中,无法获得等离子体状态的时间演变过程的问题。所述探测设备包括M0/Si反射镜、滤光片和X射线二极管;滤光片的透射谱的中心波长为13.5nm;极紫外光入射至M0/Si反射镜,并被M0/Si反射镜反射,然后经滤光片透射后,入射至X射线二极管的探测面。上述探测设备能够实时获取极紫外光辐射时间特性的探测设备。经过这样一个简易的探测设备,即可将由毛细管输出的极紫外光的时间演变过程观测和记录到,适用于毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源。
搜索关键词: 等离子体 状态 时间 特性 探测 设备
【主权项】:
等离子体状态时间特性探测设备,其特征在于,该探测设备包括M0/Si反射镜(1)、滤光片(2)和X射线二极管(3);所述滤光片(2)的透射谱的中心波长为13.5nm;极紫外光入射至M0/Si反射镜(1),并被M0/Si反射镜(1)反射,然后经滤光片(2)透射后,入射至X射线二极管(3)的探测面。
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