[实用新型]一种监控晶圆有效
申请号: | 201620554494.2 | 申请日: | 2016-06-02 |
公开(公告)号: | CN205984978U | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 王智东;傅俊 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L21/66 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李时云 |
地址: | 300385 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种监控晶圆,所述监控晶圆包括裸晶圆以及形成于所述裸晶圆上的图形化的膜层。使用本实用新型提供的监控晶圆对机台进行监控检测,可在不改变实际生产线检测设备的本身特性的情况下,提高对监控晶圆的缺陷检出率,从而提高机台的监控灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 监控 | ||
【主权项】:
一种监控晶圆,其特征在于:所述监控晶圆包括裸晶圆以及形成于所述裸晶圆上的图形化的膜层、金属层和缓冲层,所述图形化的膜层形成于所述金属层上,所述金属层形成于所述缓冲层上。
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