[实用新型]一种光分路器用芯片角度检测装置

摘要

本实用新型公开了一种光分路器用芯片角度检测装置，包括第一侧板、台阶、刹板、底板、滑轮、挡板、光源孔、第二侧板、第三侧板、观察窗、测试台、第一平面、第二平面和锁扣。本实用新型的有益效果是：该种光分路器用芯片角度检测装置的测试台上设置第一平面、第二平面，且第一平面的高度小于第二平面的高度，方便待测芯片的检测；第三侧板内部设有观察窗，方便通过观察窗观察芯片的大小；底板上依次设置大小相等的台阶，且台阶上均设置测试台，实现多个芯片的检测；挡板所在平面与测试台侧面之间夹角为30°，且挡板的长度小于观察窗的长度，将待测的芯片的发射光照射在挡板上，通过观察窗观察挡板上的情况，从而确保芯片检测的准确性。

主权项

一种光分路器用芯片角度检测装置，包括底板(4)以及垂直焊接在所述底板(4)侧壁的两个第一侧板(1)，其特征在于：两个所述第一侧板(1)之间焊接第二侧板(8)，且两个所述第一侧板(1)之间连接第三侧板(9)；所述第三侧板(9)一侧与所述第一侧板(1)之间通过铰链连接，且所述第三侧板(9)的另一侧与所述第一侧板(1)之间通过锁扣(11)连接；所述底板(4)表面设置台阶(2)，且所述台阶(2)上设置测试台(10)；所述底板(4)表面设置挡板(6)，且所述挡板(6)连接的第一侧板(1)上设有光源孔(7)；所述底板(4)底端四脚焊接滑轮(5)，且所述滑轮(5)侧面设置刹板(3)。