[实用新型]劣弧半径测量装置有效
申请号: | 201620450144.1 | 申请日: | 2016-05-18 |
公开(公告)号: | CN205879073U | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 申请(专利权)人: | ||
主分类号: | G01B5/08 | 分类号: | G01B5/08;G01B5/12;G01B5/213 |
代理公司: | 潍坊鸢都专利事务所37215 | 代理人: | 王庆德 |
地址: | 261061 山东省潍坊*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种劣弧半径测量装置,包括校准块和与其配合使用的测量表体,所述校准块上设有与待检零部件的劣弧半径相等的圆弧面;所述测量表体包括左右长度可随配合使用的校准块进行长度调节的横支杆,所述横支杆的中部安装有与其垂直设置的千分表,所述千分表的测头伸向横支杆下方。所述横支杆包括固定杆,所述固定杆的两端分别安装有与相应校准块进行配合使用的调整块。该劣弧半径测量装置结构简单,使用方便,在生产现场便能对零部件进行检测,且针对不同半径规格的劣弧均可对其方便和准确的测量。 | ||
搜索关键词: | 劣弧 半径 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种劣弧半径测量装置,其特征在于:包括校准块(1)和与其配合使用的测量表体(2),所述校准块(1)上设有与待检零部件的劣弧半径相等的圆弧面;所述测量表体(2)包括左右长度可随配合使用的校准块(1)进行长度调节的横支杆(3),所述横支杆(3)的中部安装有与其垂直设置的千分表(4),所述千分表(4)的测头伸向横支杆(3)下方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于,未经许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620450144.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种弧面缺陷测量卡
- 下一篇:一种简易圆周跳动检测工装
- 同类专利
- 专利分类