[实用新型]一种可用于辐射场下发射率测试的装置

摘要

本实用新型公开了一种可用于辐射场下发射率测试的装置，属于发射率测试技术领域。该装置在现有发射率测试系统的基础上设置了辐射场系统和温度控制系统。所述辐射场系统包括辐射源、样品照射台、照射台轨道，所述温度控制系统包括绝热箱、绝热样品套、绝热操作手套、温度控制装置、样品温度测试装置。所述绝热箱内部设有样品照射台，位于辐射源下方，样品照射台两侧有可上下移动的轨道，绝热样品套位于样品照射台上；所述绝热箱上设有温度控制装置、样品温度测试装置和绝热操作手套。本实用新型结构简单、成本低廉，解决了辐射场下发射率的测试问题，为辐射场作用下材料的发射率研究提供了硬件基础与科学依据。

主权项

一种可用于辐射场下发射率测试的装置，其特征在于，该装置包括辐射场系统、温度控制系统和发射率测试系统；所述辐射场系统包括辐射源[9]、样品照射台[5]、照射台轨道[1]，所述温度控制系统包括绝热箱[10]、绝热样品套[6]、绝热操作手套[11]、温度控制装置[12]、样品温度测试装置[8]，所述发射率测试系统包括发射率探测器[4]、发射率读数器[14]、发射率校准台[2]、标准体[3]；所述绝热箱[10]内部设有辐射源[9]、样品照射台[5]、照射台轨道[1]、绝热样品套[6]、发射率探测器[4]、发射率校准台[2]和标准体[3]，样品照射台[5]位于辐射源[9]下方，样品照射台[5]两侧有可上下移动的轨道[1]，绝热样品套[6]位于样品照射台[5]上；所述绝热箱[10]外部设有发射率读数器[14]，发射率读数器[14]和发射率探测器[4]连接；所述绝热箱[10]上设有温度控制装置[12]、样品温度测试装置[8]和绝热操作手套[11]。