[实用新型]立式光学测量计工作台有效

专利信息
申请号: 201620414396.9 申请日: 2016-05-10
公开(公告)号: CN205619877U 公开(公告)日: 2016-10-05
发明(设计)人: 孙晨磊;李艳珂;孙晨光;张玉杰;康俊云;赵晓丹 申请(专利权)人: 黄河科技学院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 郑州豫开专利代理事务所(普通合伙) 41131 代理人: 朱俊峰
地址: 450005 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 立式光学测量计工作台,包括水平设置的底板,底板上表面中部沿前后方向垂直设有立板,立板顶部左侧和右侧分别水平设有左导向板和右导向板,底板和左导向板之间设有左支撑调节定位机构,底板和右导向板之间设有右支撑调节定位机构,左支撑调节定位机构和右支撑调节定位机构构造相同且关于立板左右对称设置。本实用新型中可调的V形槽,既保证了测量的精度,又限制了被测零件只能前后移动和周向转动,且在测量过程中,被测零件的前后移动在同一条轴线上。采用本实用新型在测量过程中,避免了手动调节的难度,同时避免了测量人员无法准确读出测量点数据,提高测量数据的准确性,避免了手动误差,提高测量效率。
搜索关键词: 立式 光学 测量计 工作台
【主权项】:
立式光学测量计工作台,其特征在于:包括水平设置的底板,底板上表面中部沿前后方向垂直设有立板,立板顶部左侧和右侧分别水平设有左导向板和右导向板,底板和左导向板之间设有左支撑调节定位机构,底板和右导向板之间设有右支撑调节定位机构,左支撑调节定位机构和右支撑调节定位机构构造相同且关于立板左右对称设置。
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