[实用新型]半导体芯片自动测试控制装置

摘要

本实用新型涉及一种半导体芯片自动测试控制装置，包括PLC模块，PLC模块输出控制信号给第一继电器，控制测试定位电磁铁的伸出，控制测试定位板的伸缩，安装在测试定位板的第一行程开关将到位信号传递给PLC模块，PLC模块控制第二继电器、第三继电器，控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；PLC模块接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，控制第四继电器，控制废品挡料电磁铁的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，PLC模块控制第五继电器，控制废品顶料电磁铁的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。

主权项

一种半导体芯片自动测试控制装置，其特征在于：包括PLC模块、供电电源、多个指令输入开关和多个行程开关以及多个作为执行元件的伸缩式电磁铁，所述供电电源用于给整个装置供电，所述PLC模块与半导体芯片测试仪以及多个指令输入开关电连接，所述PLC模块用于接收指令输入开关的指令信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），用于控制测试定位电磁铁带动测试定位板伸出，将沿测试轨道滑下的待测芯片定位在测试位；安装在测试定位板的第一行程开关（SQ1）用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第一行程开关（SQ1）的到位信号，输出控制信号给第二继电器（KA2）、第三继电器（KA3），控制左针座电测铁、右针座电测铁的伸缩，控制左测试针座和右测试针座夹紧芯片进行测试；所述PLC模块用于接收半导体芯片测试仪的测试结果信号，输出控制信号给第一继电器（KA1），控制测试定位电磁铁缩回，以及输出控制信号给第四继电器（KA4），控制废品挡料电磁铁的伸缩，控制安装在正品出料通道口的废品挡料板的伸缩，使正品芯片进入正品出料通道；安装在废品挡料板的第二行程开关（SQ2）用于将检测到的到位信号传递给PLC模块，所述PLC模块用于接收第二行程开关（SQ2）的到位信号，输出控制信号给第五继电器（KA5），控制废品顶料电磁铁的伸缩，控制废品顶料板的伸缩，将废品芯片顶入废品出料通道。