[实用新型]用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构及设备有效
| 申请号： | 201620279417.0 | 申请日： | 2016-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN205449001U | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 周波;胡恒广;王丽红 | 申请（专利权）人： | 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 谢鑫;肖冰滨 |
| 地址： | 100075 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及平板玻璃领域，公开了一种用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构及设备，该光路结构可以实现在待测玻璃表面形成满足干涉条件的第一照亮带和第二照亮带，该设备包括：上述的光路结构；摄像机，用于拍摄所述第一照亮带与所述第二照亮带所形成的干涉条纹的图像；以及处理器，根据所述干涉条纹的图像来判断所述待测玻璃表面上是否存在颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 平板玻璃 表面 颗粒 结构 设备 | ||
【主权项】：
一种用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构，其特征在于，该光路结构包括：光源；第一反光镜；第二反光镜；半反射半透射镜片，用于将所述光源发出的光反射至所述第一反光镜，并经该第一反光镜反射后照射至待测玻璃以形成第一照亮带，以及用于将所述光源发出的光透射至所述第二反光镜，并经该第二反光镜反射后照射至所述待测玻璃以形成与所述第一照亮带平行的第二照亮带，所述第一照亮带与所述第二照亮带满足干涉条件。
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