[实用新型]半导体封装结构有效
申请号: | 201620275866.8 | 申请日: | 2016-04-05 |
公开(公告)号: | CN205542765U | 公开(公告)日: | 2016-08-31 |
发明(设计)人: | 顏立盛 | 申请(专利权)人: | 群汇管理顾问有限公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种半导体封装结构,包括:埋设有一线路层的防焊层、设于该防焊层上并电性连接该线路层的半导体元件、以及包覆该半导体元件的介电体,以藉此方式能大幅降低整体结构的厚度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体封装结构,其特征在于,该半导体封装结构包括:防焊层;线路层,其埋设于该防焊层中且部分外露于该防焊层;半导体元件,其设于该防焊层上,且具有相对的作用面与非作用面,其中,该半导体元件藉其作用面电性连接外露于该防焊层的该线路层;以及介电体,其形成于该防焊层上以包覆该半导体元件。
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