[实用新型]一种单向低压TVS器件有效
申请号: | 201620137605.X | 申请日: | 2016-02-24 |
公开(公告)号: | CN205428949U | 公开(公告)日: | 2016-08-03 |
发明(设计)人: | 张超;王成森;姜瑞;王志超 | 申请(专利权)人: | 江苏捷捷微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种单向低压TVS器件,包括N型硅片,N型硅片中设有P1掺杂区和P2掺杂区,P1掺杂区中设有N1+掺杂区,P2掺杂区中设有N2+掺杂区,位于P2掺杂区远离P1掺杂区一侧的N型硅片中设有N3+掺杂区;N型硅片的正面设有氧化层,氧化层的上表面设有上金属化电极和互连金属层;N型硅片的背面依次设有N+掺杂区和下金属化电极。本实用新型内置两个倒置的三极管,利用三极管集电极‑发射极击穿原理,通过设置合理的放大倍数达到击穿电压低、漏电低的目的,避免了传统TVS器件由于高浓度结在低击穿电压时齐纳击穿导致的高漏电问题,且制造方法简单易行,适应批量生产的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 单向 低压 tvs 器件 | ||
【主权项】:
一种单向低压TVS器件,其特征在于:包括N型硅片,所述N型硅片中设有P1掺杂区和P2掺杂区,所述P1掺杂区中设有N1+掺杂区,所述P2掺杂区中设有N2+掺杂区,位于所述P2掺杂区远离P1掺杂区一侧的N型硅片中设有N3+掺杂区;所述N型硅片的正面设有氧化层,所述氧化层的上表面设有上金属化电极和互连金属层,所述上金属化电极通过贯穿氧化层的开孔与N1+掺杂区和N2+掺杂区的上表面连接,所述互连金属层通过贯穿氧化层的开孔与P2掺杂区和N3+掺杂区的上表面连接;所述N型硅片的背面设有N+掺杂区,所述N+掺杂区的背面设有下金属化电极。
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