[实用新型]减小损耗的IGBT驱动电路有效

专利信息
申请号: 201620115908.1 申请日: 2016-02-04
公开(公告)号: CN205544905U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 刘卫光 申请(专利权)人: 深圳市贵鸿达电子有限公司
主分类号: H02M1/08 分类号: H02M1/08
代理公司: 深圳市中知专利商标代理有限公司 44101 代理人: 张学群;景志轩
地址: 518028 广东省深圳市龙岗区横*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种减小损耗的IGBT驱动电路,该电路可有效抑制器件关断过程的过电压,提高开关电源整机效率。本实用新型的在所述信号输入端与IGBT输出端之间还设有一个可降低IGBT关断过电压的驱动电路,该驱动电路由五个MOS管、二个稳压管、一个导流二极管和若干个电阻构成。与现有技术相比,本实用新型驱动电路在IGBT的信号输入端与IGBT输出端之间设置一个由五个MOS管、二个稳压管、一个导流二极管和若干个电阻构成的可降低IGBT关断过电压的驱动电路,使得其能有效抑制IGBT器件关断过程中的过电压,提高开关电源整机效率。
搜索关键词: 减小 损耗 igbt 驱动 电路
【主权项】:
一种减小损耗的IGBT驱动电路,包括IGBT控制极信号输入端和IGBT输出端,其特征在于:在所述信号输入端与IGBT输出端之间还设有一个可降低IGBT关断过电压的驱动电路,该驱动电路由五个MOS管、二个稳压管、一个导流二极管和若干个电阻构成,其中,导流二极管与第一电阻并联,导流二极管的正极端接于所述的信号输入端,其负极端连接于第一MOS管、第二MOS管和第五MOS管的栅极;第一MOS管的漏极与第二MOS管的漏极相连并接于第三MOS管和第四MOS管的栅极,第一MOS管的源极接于直流供电端,第二MOS管的源极接于地端;第三MOS管的漏极通过第二电阻连接于IGBT的门极和第五MOS管的源极,第四MOS管的漏极通过第三电阻连接于IGBT的门极和第五MOS管的源极,第三MOS管的源极接于直流供电端,第四MOS管的源极接于地端;第五MOS管的漏极通过第四电阻接地;在IGBT的发射极与集电极之间跨接有第一稳压管与第一电容的串接电路;第一MOS管、第三MOS管和第五MOS管均为PMOS管,第二MOS管和第四MOS管为NMOS管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市贵鸿达电子有限公司,未经深圳市贵鸿达电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620115908.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top