[实用新型]一种红外探测器响应率测试装置有效
申请号: | 201620104683.X | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN205537969U | 公开(公告)日: | 2016-08-31 |
发明(设计)人: | 张豪;何旭娇;谈彬武;吕鹏;许勇;周平 | 申请(专利权)人: | 无锡元创华芯微机电有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/02 |
代理公司: | 宜兴市天宇知识产权事务所(普通合伙) 32208 | 代理人: | 周舟 |
地址: | 214200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种红外探测器响应率测试装置,包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据,本装置方法简便实用,测试精度较高,可广泛推广使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外探测器 响应 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种红外探测器响应率测试装置,其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。
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