[实用新型]一种红外探测器响应率测试装置有效

专利信息
申请号: 201620104683.X 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN205537969U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 张豪;何旭娇;谈彬武;吕鹏;许勇;周平 申请(专利权)人: 无锡元创华芯微机电有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/02
代理公司: 宜兴市天宇知识产权事务所(普通合伙) 32208 代理人: 周舟
地址: 214200 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种红外探测器响应率测试装置,包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据,本装置方法简便实用,测试精度较高,可广泛推广使用。
搜索关键词: 一种 红外探测器 响应 测试 装置
【主权项】:
一种红外探测器响应率测试装置,其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统,所述光源系统安装于黑体支架上,包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器,三维位移台上安装有被测探测器,测试处理系统包括测试计算机、测试板卡,测试计算机信号连接黑体控制器,控制黑体辐射温度,黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上,被测探测器信号连接测试板卡,测试板卡与测试计算机电连接,由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。
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