[发明专利]带CMOS温度传感器的温度补偿型半导体应变计在审
申请号: | 201611247078.9 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN108253877A | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 邱华诚;李绪国;王雄;袁明权;张凤田;高扬;郭海潮 | 申请(专利权)人: | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 |
主分类号: | G01B7/16 | 分类号: | G01B7/16 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
地址: | 621000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于半导体应变测试技术领域,具体涉及一种带CMOS温度传感器的温度补偿型半导体应变计。包括:由四个压敏电阻组成的应变敏感器件,四个压敏电阻尺寸相同,相互连接并组建Wheatstone全桥;由两个CMOS晶体管组成的温度敏感器件,两个CMOS晶体管尺寸相同,位于Wheatstone全桥的四个压敏电阻中间;CMOS晶体管和Wheatstone全桥共用一个恒压激励源,且其负激励端接地,两个CMOS晶体管的基极直接连至全桥输入端的接地端,两个CMOS晶体管的集电极均由外部固定电阻连接至恒压激励源,且这两个外部固定电阻阻值不同。本发明通过用不同的驱动电流驱动两个相邻且等尺寸的晶体管,消除因晶体管各项寄生物理量及工艺偏差等引起的误差,从而增加了测量温度的精准度。 | ||
搜索关键词: | 全桥 压敏电阻 半导体 恒压激励源 温度补偿型 温度传感器 固定电阻 应变计 晶体管 物理量 温度敏感器件 应变敏感器件 工艺偏差 驱动电流 应变测试 接地 激励端 集电极 接地端 精准度 外部 寄生 测量 驱动 组建 | ||
【主权项】:
1.一种带CMOS温度传感器的温度补偿型半导体应变计,其特征在于:包括:由四个压敏电阻组成的应变敏感器件,四个压敏电阻尺寸相同,相互连接并组建Wheatstone全桥;由两个CMOS晶体管组成的温度敏感器件,两个CMOS晶体管尺寸相同,位于Wheatstone全桥的四个压敏电阻中间;CMOS晶体管和Wheatstone全桥共用一个恒压激励源,且其负激励端接地,两个CMOS晶体管的基极直接连至全桥输入端的接地端,两个CMOS晶体管的集电极均由外部固定电阻连接至恒压激励源,且这两个外部固定电阻阻值不同。
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