[发明专利]一种获取亚像素位移序列图像的方法及系统有效
申请号: | 201611214683.6 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106791405B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 金光;宋明珠;曲宏松;张贵祥;陶淑苹 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学;中图高科(北京)信息技术有限公司 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;G06T3/40 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王加贵 |
地址: | 100080 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种获取亚像素位移序列图像的方法及系统,该方法通过确定倾斜模态成像过程中面阵CMOS传感器倾斜角度和积分级数M,进而确定面阵CMOS传感器沿轨方向的开窗尺寸s;获取目标区域的亚像素位移序列图像和确定亚像素位移序列图像的横纵向位移与理论值的差异值,并判断差异值是否小于设定的误差门限阈值;若是,则确定获取的亚像素位移序列图像可用于超分辨重构,实现在时间延迟积分电荷耦合器件推扫成像中,产生用于超分辨重构的具有不同亚像素位移的序列图像,进而利用具有不同亚像素位移的序列图像通过超分辨重构算法达到在原有载荷量级基础上提升图像分辨率的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 获取 像素 位移 序列 图像 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种获取亚像素位移序列图像的方法,其特征在于,所述方法包括:确定倾斜模态成像过程中面阵CMOS传感器倾斜角度θ和积分级数M;根据所述积分级数M和所述面阵CMOS传感器倾斜角度θ,确定面阵CMOS传感器沿轨方向的开窗尺寸s;根据所述开窗尺寸s,获取目标区域的亚像素位移序列图像;所述亚像素位移序列图像具有不同的亚像素位移;根据所述亚像素位移序列图像,获取亚像素位移序列图像的横向位移x和纵向位移y;计算所述横向位移x与横向位移理论值x0的差异值Δsx;计算所述纵向位移y与纵向位移理论值y0的差异值Δsy;判断所述差异值Δsx、Δsy是否均小于设定的误差门限阈值δ;若是,则确定获取的所述亚像素位移序列图像可用于超分辨重构;若否,则重新确定倾斜模态成像过程中面阵CMOS传感器倾斜角度θ。
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