[发明专利]FPGA互连线测试方法及装置有效
| 申请号： | 201611207324.8 | 申请日： | 2016-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN106841894B | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 何东东;蔡广全;温长清;包朝伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市国微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/66 | 分类号： | G01R31/66;G06F30/34 |
| 代理公司： | 44281 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 江婷;李发兵 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA互连线测试方法及装置，获取FPGA器件之待测开关矩阵外部横向的待测互连线以及纵向的待测互连线，然后对获取的横向的待测互连线和纵向的待测互联线分别在横向和纵向进行建模以生成互连线测试图形，然后将得到的互连线测试图形转换为测试位流文件输入待测开关矩阵进行测试。可见本发明将互连线在横向与纵向进行断开各自单独成为连线型，在生成互连线测试图形是只需要对互连线在横向和纵向两个方向上进行二分，纵横分解模型在应用处理上既要比图层分解更容易简单，且针对各种类型的互连线也都仅需要进行二分，因此既能简化测试操作，又能在很大程度上提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 互连 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种FPGA互连线测试方法，其特征在于，包括：/n获取FPGA器件之待测开关矩阵外部横向的待测互连线和纵向的待测互连线；/n对所述横向的待测互连线和所述纵向的待测互连线分别进行建模以生成互连线测试图形，所述对所述横向的待测互连线和所述纵向的待测互连线分别进行建模以生成互连线测试图形包括：根据所述待测互连线的连线类型分别从所述横向的待测互连线中和所述纵向的待测互连线中各自选择出对应的N条待测互连线，一个方向上选择出的所述N条待测互连线各不相同；在所述待测开关矩阵的各行设置从所述横向的待测互连线中选择出的待测互连线，并在所述待测开关矩阵的各列设置从所述纵向的待测互连线中选择出的待测互连线；将所述各行的待测互连线进行合并处理，并将所述各列的待测互连线进列合并处理；将合并处理后的横向待测互连线进行代码建模得到横向模型代码，并将合并处理后的纵向待测互连线进行代码建模得到纵向模型代码；将所述横向模型代码和所述纵向模型代码进行合并得到互连线测试模型代码；根据所述互连线测试模型代码生成互连线测试图形；/n将所述互连线测试图形转换为测试位流文件输入所述待测开关矩阵进行测试。/n
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