[发明专利]一种射频ESD电压检测电路

摘要

在射频IC应用电路中，对裸露的天线做ESD测试时，会出现IC内部寄存器随机翻转从而导致IC死机等异常现象，此时IC并未受到物理性伤害，重启IC后可以正常工作，本发明提供一种ESD电压检测电路，当天线上的ESD电压达到设计阈值时，输出信号给IC的复位管理电路，实现IC的软复位。

主权项

1.一种射频ESD电压检测电路，可以检测IC的ESD电压大小，其特征在于：该电路包括一个ESD放电二极管D1，一个ESD放电二极管D2，一个比较器P，一个比较器N，一个或非门X1，一个ESD检测电阻R，一个脉冲展宽电路和天线；所述的ESD放电二极管D1的负端接天线和ESD放电二极管D2的正端，ESD放电二极管D1的正端接ESD检测电阻R的一端和ESD放电二极管D2的负端；ESD放电二极管D2的正端接天线和ESD放电二极管D1的负端，ESD放电二极管D2的负端接ESD检测电阻R的一端和ESD放电二极管D1的正端；所述的ESD检测电阻R的一端接VR端点，另一端接地；比较器P的输入正端接VR端点，输入负端接参考电压VREF_P，输出接或非门X1的一个输入；比较器N的输入负端接VR端点，输入正端接参考电压VREF_N，输出接或非门X1的另一个输入；或非门X1的两个输入分别接比较器P和比较器N的输出，或非门X1的输出接脉冲展宽电路的输入；脉冲展宽电路的输入接或非门X1的输出，脉冲展宽电路输出OUT，该输出OUT用于软复位电路，实现软复位功能；当提高天线端正的ESD电压时，VR端点电压为正值不断升高，达到参考电压VREF_P的值，比较器P翻转，通过或非门X1和脉冲展宽电路输出；当提高天线端负的ESD电压时，VR端点电压为负值不断降低，达到参考电压VREF_N的值，比较器N翻转，通过或非门X1和脉冲展宽电路输出。/n