[发明专利]元件格布局结构与形成元件格的方法有效
| 申请号: | 201611191717.4 | 申请日: | 2016-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN106601732B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
| 发明(设计)人: | 庄惠中;江庭玮;林仲德;田丽钧 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/07;H01L21/70 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
| 地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | 一种鳍式场效晶体管的元件格结构,包含多条在元件格中的多晶硅线以及多个在元件格中的鳍形氧化扩散区域。多晶硅线水平地配置且以节距X平均地间隔。鳍形氧化扩散区域垂直地配置且以节距Y平均地间隔。鳍形氧化扩散区域的节距Y定义出元件格的宽度。元件格结构还包含多个P型与N型金属氧化物半导体晶体管。这些P型与N型金属氧化物半导体晶体管具有形成在鳍形氧化扩散区域的源极节点以及漏极节点,以及连接至多晶硅线的栅极。这些P型与N型金属氧化物半导体晶体管相连在一起以形成元件格中的一或多个互补式金属氧化物半导体装置。 | ||
| 搜索关键词: | 元件 布局 结构 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种元件格结构,其特征在于,包含:多条在该元件格中的多晶硅线,其中所述多条多晶硅线以一第一方向配置且以一第一节距平均地间隔;多个在该元件格中的鳍形氧化扩散区域,其中所述多个鳍形氧化扩散区域以一第二方向配置且以一第二节距平均地间隔,其中所述多个鳍形氧化扩散区域的该第二节距定义出该元件格的宽度;以及多个在该元件格中的P型金属氧化物半导体晶体管与N型金属氧化物半导体晶体管,其中所述多个P型金属氧化物半导体晶体管与所述多个N型金属氧化物半导体晶体管具有形成在相应的鳍形氧化扩散区域的源极节点以及漏极节点,以及连接至相应的多晶硅线的栅极,其中所述多个P型金属氧化物半导体晶体管与所述多个N型金属氧化物半导体晶体管相连在一起以形成该元件格中的一个或多个互补式金属氧化物半导体装置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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