[发明专利]储存装置和其读取回收方法有效
| 申请号： | 201611174599.6 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN107015917B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 诸炫承;李熙元;金守珍 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F12/02 | 分类号： | G06F12/02;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽;曹瑜 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种储存装置的读取回收方法，包括：在随机数量的读操作的周期，检测存储于多个存储块中每一个内的非选择数据中的错误位数量。关于读操作的数量，以大于基准率的率值增加的检测到的错误位数量的存储块在一个或更多读操作的随机数的周期上被选择为弱块。存储于弱块中的非选择数据中的错误位数量在读操作的固定数量的周期被检测。检测根据固定数量周期检测到的错误位数量是否大于或等于读取回收基准。非选择数据为没有被主机请求的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 储存 装置 读取 回收 方法 | ||
【主权项】：
一种储存装置的读取回收方法，所述方法包括：在随机数量的读操作的周期中，检测存储于多个存储块中的每一个中的非选择数据中的错误位数量；选择具有在随机数量的读操作的一个或多个周期上相对于读操作的数量的、检测到的错误位的数量以大于基准率的率值增加的存储块为弱块；在固定数量的读操作的周期中，检测存储于弱块中的非选择数据中的错误位数量；和检测根据所述固定数量的读操作的周期检测到的错误位数量是否大于或等于读取回收基准；其中，所述非选择数据为没有被主机请求的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611174599.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种配电网的薄弱环节辨识方法及装置
- 下一篇：电力负荷周周期特性建模方法
