[发明专利]已知特征曲线的温度传感器在同性介质中的质量检测方法在审

专利信息
申请号: 201611167753.7 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106595904A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 李同彬;康新;林清华;赵芳丽 申请(专利权)人: 莆田学院
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司35100 代理人: 蔡学俊,薛金才
地址: 351100 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种已知特征曲线的温度传感器在同性介质中的质量检测方法,其包括以下步骤S1对需要批量检测的多个传感器及其位置进行编号,设编号及个数为n,并记录与传感器相关的介质及环境的特征参数与数据,假设编号和初始温度记为T11,T12,…,T1n;S2选择要检测的传感器的已知特征曲线数据,先在一个设定的时间区间,改变传感器所处介质温度,并记下传感器检测到的温度,假设为T21,T22,…,T2n;S3进行数据比对判断是否合格。本发明以各向同性热传导定律为科学理论根据,更加适合工业现场实际情况,使掌握本方法的人和研发设备,在操作使用上更加方便、实用,在成本上更加低廉,在效率上成倍提高。
搜索关键词: 已知 特征 曲线 温度传感器 同性 介质 中的 质量 检测 方法
【主权项】:
一种已知特征曲线的温度传感器在同性介质中的质量检测方法,其特征在于包括以下步骤:S1:对需要批量检测的多个传感器及其位置进行编号,设编号及个数为n,并记录与传感器相关的介质及环境的特征参数与数据,假设编号和初始温度记为T11,T12,…,T1n;S2:选择要检测的传感器的已知特征曲线数据,先在一个设定的时间区间,改变传感器所处介质温度,并记下传感器检测到的温度,假设为T21,T22,…,T2n;S3:将此n个传感器质量或者工作状态用以下三个条件进行数据比较,并判断合格否;△Tx=max(T1i‑T1j)≤x℃△Ty=max(T2i‑T2j)≤y℃△Tz=min(T2i‑T1j)≥z℃其中,i=1,2,…,n;j=1,2,…,n;△Tx是初始温差,即检测前的环境下测得的最大温差,x理论上接近零;△Ty是环境温度变化后测得各点的最大温差,y与环境介质的导热系数、密度、比热、局部热流密度、介质间有效对流换热系数相关,△Tz是施加于检测环境的最小测试温度差值,x,y,z温差值的大小根据产品质量要求做调整。
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