[发明专利]一种基于偏振散射特征的炭黑颗粒物测量方法和装置有效
| 申请号： | 201611124030.9 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106769696B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 曾楠;马辉;李达;何永红 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N21/21 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 王震宇 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基于偏振散射特征的炭黑颗粒物测量方法和装置，该方法包括以下步骤：探测颗粒物对激光散射后的散射光，其中对90‑120度范围内的特定散射角度下的散射偏振光进行测量；提取散射光的偏振通道电压，计算散射光的Stokes矢量S，根据Stokes矢量计算得到如下特征偏振参量Pdop；根据Pdop的值分析和确定颗粒物吸收属性，并可由此鉴别炭黑颗粒物。本发明操作简单快捷，测量范围广，局限性小，减少了探测器的数量，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 颗粒物 散射光 炭黑 方法和装置 颗粒物测量 散射特征 散射 偏振光 测量 激光散射 通道电压 探测器 参量 鉴别 探测 吸收 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于偏振散射特征的炭黑颗粒物测量方法，其特征在于，包括以下步骤：探测颗粒物对激光散射后的散射光，其中对90‑120度范围内的特定散射角度下的散射偏振光进行测量；提取散射光的偏振通道电压，计算散射光的Stokes矢量S，根据Stokes矢量计算得到如下特征偏振参量Pdop：![]()
Pdop＝U/I其中I代表光的总强度或0°光强I0和90°光强I90之和；Q代表0°光强I0和90°光强I90的差；U代表45°光强I45和135°光强I135的差；V代表右旋和左旋圆偏光强的差；根据Pdop的值分析和确定颗粒物吸收属性，并可由此鉴别炭黑颗粒物。
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