[发明专利]PID性能评估方法

摘要

本发明提出了PID性能评估方法，属于自动化控制领域，包括获取控制回路的生产数据和数据质量码，根据数据质量码对生产数据进行处理得到处理后的生产数据序列，结合预设的过程模型得到更新后的响应时间，进而获取与控制回路对应的性能评价参数，根据性能评价参数确定控制回路的性能等级。通过获取包括控制回路的测量值、设定值、操作值在内的多种数据，并且构建了用于对控制回路内的响应时间进行更新的过程模型，基于获取到的数据对控制回路的性能进行评估，同时能够基于过程模型结合获取到的多种数据对评估标准进行迭代更新，相对于现有技术能够降低因未能及时进行人工维护导致控制性能恶化的可能性，减少控制回路出现安全隐患的概率。

主权项

1.PID性能评估方法，其特征在于，所述评估方法，包括：获取控制回路的生产数据、以及与生产数据对应的数据质量码，根据数据质量码对生产数据进行坏值处理，得到处理后的生产数据序列；根据处理后的生产数据序列，结合预设的过程模型对控制回路的响应时间进行更新，得到更新后的响应时间；结合更新后的响应时间获取与控制回路对应的性能评价参数，根据性能评价参数确定控制回路的性能等级；其中，生产数据包括控制回路的测量值、设定值以及操作值；所述根据处理后的生产数据序列，结合预设的过程模型对控制回路的响应时间进行更新，得到更新后的响应时间，包括构建预设的过程模型output＝M·input，其中output代表控制回路的输出时间序列，input代表控制回路的输入时间序列，M代表控制回路的过程控制函数，M＝f(k,T,σ)，其中k代表回路增益，T为时间常数，σ表示迟滞；建立目标优化函数对目标优化函数求解，获取令目标优化函数取得最小值的k、T、σ，其中，u代表控制回路的理想输入时间序列，y代表控制回路的实际输出时间序列；基于求解后的T+σ，得到更新后的响应时间。