[发明专利]一种基于3D成像技术的LCM组件外形缺陷检测方法

摘要

本发明涉及一种基于3D成像技术的LCM组件外形缺陷检测方法，属于LCM组件外形缺陷检测领域，能提高LCM组件外形缺陷检测的效率和精确度。本发明使用3D激光传感器获取LCM组件的原始高度图像，此图像中包括表示环境背景的背景区域、表示覆盖外围电路部分的Cover区域和表示屏幕部分的屏幕区域；根据3D激光传感器与LCM组件的位置关系将原始高度图像转换成表示LCM组件真实高度值的第一高度图像，利用背景区域与Cover区域和屏幕区域的高度值的范围差别过滤掉背景区域，得到第二高度图像；根据第二高度图像中Cover区域和屏幕区域的高度值来判断LCM组件外形是否存在缺陷。用于代替人工检测来精确和高效的进行LCM组件外形缺陷的检测。

主权项

1.一种基于3D成像技术的LCM组件外形缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1，使用3D激光传感器获取LCM组件的原始高度图像，此图像中包括表示环境背景的背景区域、表示LCM组件中覆盖外围电路部分的Cover区域和表示LCM组件中屏幕部分的屏幕区域；S2，根据3D激光传感器与LCM组件的位置关系将原始高度图像转换成表示LCM组件真实高度值的第一高度图像，利用背景区域与Cover区域和屏幕区域的高度值的范围差别过滤掉背景区域，得到仅含Cover区域和屏幕区域的第二高度图像；S3，根据第二高度图像中Cover区域和屏幕区域的高度值来判断LCM组件外形是否存在缺陷；所述S3还包括以下步骤：S31，根据第二高度图像中的部分像素点的高度值拟合得到一个所有像素点高度值位于同一平面的基准图像；S32，将第二高度图像中各像素点的高度值与基准图像中对应的像素点的高度值相减求差，根据求差后的高度值数据获得第一高度差图；S33，在第一高度差图中，根据屏幕区域中选定的高度值设定阈值，选出Cover区域中高度值被此阈值限定的范围，根据此范围的面积来判断LCM组件的外形是否存在缺陷；所述S31中所述的第二高度图像中的部分像素点的选择过程具体包括：通过在所述第二高度图像中获取Cover区域的范围，将此范围平移一个设定的位移到屏幕区域中选中一块与此范围面积大小相同的区域，此被选中的区域中的所有像素点即为所述的第二高度图像中的部分像素点；所述获取Cover区域的范围的过程具体包括：以第一次检测LCM组件外形缺陷时获取的第二高度图像的位置和范围为标记，以后每次检测其它LCM组件时将获得的对应的第二高度图像矫正到此标记的位置，根据矫正位置后的第二高度图像中屏幕区域的位置和面积设置一个固定的范围，利用开运算选出屏幕区域，将矫正位置后的第二高度图像与该被选出的屏幕区域求差集，获得Cover区域的范围。