[发明专利]爆炸电路板残片图像自动比对识别方法

摘要

本发明公开了一种爆炸电路板残片图像自动比对识别方法，属于模式识别和图像处理技术领域。所述方法首先将残片图像基于概率图模型的图像分割算法进行对象分割，再采用基于概率抽样的颜色模型进行元器件的对象精定位，然后提取特征点并过滤，将过滤后的特征点与检索库中的电路板特征点进行比对识别，确定残片所属的源电路板。本发明首次提出并实现了根据爆炸电路板残片图像自动识别印刷电路板同型号原板的方法。所述比对识别方法能够准确地分割出电路板中的元器件及字符区域，抑制噪声干扰，比对时同时考虑特征点描述与空间几何关系的相似性，该方法在电路板残片图像自动识别中TOP1准确率高于99％。

主权项

1.爆炸电路板残片图像自动比对识别方法，其特征在于：包括如下步骤，第一步，对原电路板图像进行对象分割，具体为：在原电路板图像上，在电路板外围人工画矩形框，再执行基于概率图模型的图像分割算法，得到电路板前景图像区域；在电路板前景图像区域，采用K‑means算法聚类电路板像素颜色值，像素数目最多的那一类簇则认为是主板像素，作为初始背景，其余簇均作为初始前景，以此分别初始化高斯混合模型，进而执行基于概率图模型的图像分割算法，得到电路板对象分割结果；对于电路板对象分割结果，执行基于概率抽样的颜色模型，对元器件对象进行的对象精定位；第二步，特征提取和特征点过滤：对象分割后的原电路板图像分别进行SIFT特征点提取和特征点过滤；第三步，对所有的原电路板执行第一步～第二步，存储原电路板图像、原电路板过滤后的SIFT特征点及其描述，构建检索库；第四步，对待识别残片图像进行对象分割和SIFT特征点提取；第五步，特征比对：将第四步中获得的待识别残片图像的SIFT特征点与第三步建立的检索库中的特征点进行比对，确定残片所属的源电路板。