[发明专利]一种基于部分扫描的集成电路故障注入攻击模拟方法

摘要

本发明公开了一种基于部分扫描的集成电路故障注入攻击模拟方法：提取故障注入的目标寄存器；部分扫描插入；故障向量生成；故障注入和仿真；安全评估。本发明通过在电路综合后的原始网表中选取部分寄存器插入扫描链，实现集成电路故障注入攻击模拟，降低了资源消耗，实现了自动化。

主权项

1.一种基于部分扫描的集成电路故障注入攻击模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)提取故障注入的目标寄存器：将待测电路设计源码综合成原始网表，设置故障注入的目标变量，提取故障注入的目标寄存器；(2)部分扫描插入：从原始网表中选取部分寄存器作为扫描寄存器，在原始网表中插入扫描链和故障注入控制模块生成新网表；(3)故障向量生成：按最小逻辑距离对原始网表中的寄存器进行分组，对原始网表进行软件仿真，得到各组的寄存器数值向量，根据故障类型，重新计算目标寄存器的值，更新各组的寄存器数值向量，通过原始网表和逆推算法，利用各组的寄存器数值向量，逆推得到各组的扫描寄存器数值向量和对应的时钟周期数；若逆推失败则重复上述步骤(2)和(3)，若逆推成功则得到多组由扫描寄存器数值向量和时钟周期数构成的故障向量；(4)故障注入和仿真：故障注入控制模块向待测电路提供输入向量，运行待测电路直至注入故障的时刻，将待测电路由正常模式切换至扫描模式，从组号最大的故障向量开始，依次扫入扫描寄存器并运行相应的时钟周期，操作完成后则将待测电路切换至正常模式，继续运行待测电路，收集待测电路的输出数据；(5)安全评估：对收集到的待测电路的输出数据进行分析，评估待测电路的抗故障注入攻击能力。