[发明专利]屏蔽材料的屏蔽效能测量方法、测量系统及校准系统有效

专利信息
申请号: 201611068578.6 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106443208B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 范丽思;周星;万浩江;卢新福;潘晓东;程二威;王赟 申请(专利权)人: 中国人民解放军军械工程学院
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R35/00
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 王占华
地址: 050003 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种屏蔽材料的屏蔽效能测量方法、测量系统及校准系统,涉及屏蔽效能测量方法技术领域。所述方法包括如下步骤:被测屏蔽材料将混响室分隔为电磁发射区域和电磁接收区域两部分;在所述混响室外设置信号源,信号源连接电磁发射区域的发射天线,将信号以电磁波的形式进行发射;在电磁接收区域测量安装被测屏蔽材料前的信号源的电磁参考功率;在电磁接收区域测量安装被测屏蔽材料后的信号源的电磁测量功率;根据参考功率和测量功率测得该屏蔽材料的屏蔽效能。所述测量方法可以测量屏蔽材料各入射方向的屏蔽效能,使得屏蔽效能的测试更准确。
搜索关键词: 屏蔽 材料 效能 测量方法 测量 系统 校准
【主权项】:
1.一种屏蔽材料的屏蔽效能测量方法,其特征在于包括如下步骤:被测屏蔽材料将混响室分隔为电磁发射区域和电磁接收区域两部分;在所述混响室外设置信号源,信号源连接电磁发射区域的发射天线,将信号以电磁波的形式进行发射;在电磁接收区域测量安装被测屏蔽材料前的信号源的电磁参考功率为Pref;在电磁接收区域测量安装被测屏蔽材料后的信号源的电磁测量功率为Pres;所述电磁参考功率Pref和所述电磁测量功率Pres经过校准系统修正后得到;测得该屏蔽材料的屏蔽效能SEdB为:其中,通过以下方法获得Pref和Pres:在电磁发射区域的中心布置参考天线,混响室外布置第二接收机,第二接收机与参考天线连接后构成参考回路,通过第二接收机获得Pref;在电磁接收区域的中心位置布置接收天线,混响室外布置第一接收机,第一接收机与测量天线连接后构成测量回路,通过第一接收机获得Pres;其中,所述电磁发射区域和电磁接收区域内各设有一个搅拌器;当参考天线与测量天线不同时,对参考回路和测量回路进行校准,校准方法如下:校准时不安装被测屏蔽材料,混响室外的信号源通过定向耦合器与发射天线连接,设定信号源的校准频率为f,搅拌器的位置数为N,测量定向耦合器的前向功率Pfwd和反向功率Prev,得到入射到混响室的净功率Ptr,净功率的平均估计值<Ptr>为:式中,为第i个搅拌位置的前向功率值,为第i个搅拌位置的反向功率值;搅拌器旋转N位置数过程中,每个搅拌位置参考天线测量到的参考校准功率其平均估计值为:式中,ηref为得到参考天线与参考回路的效率,根据上式可得ηref为:式中,为第i个搅拌位置参考天线测得的校准功率值;同理可得,测量天线与测量回路的效率为ηres式中,为每个搅拌位置测量天线测量到的测量校准功率的平均估计值,为第i个搅拌位置测量天线测得的校准功率值。
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