[发明专利]一种含烃储集层核磁共振测井T2谱形态校正方法有效
申请号: | 201611060529.8 | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN106351652B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 肖亮;毛志强;邹长春;王华;刘晓鹏;徐锐 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 蒋常雪 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了含烃储集层核磁共振测井T2谱形态校正方法,所述方法依据实际测量的含烃储集层的核磁共振测井T2谱,通过孔隙度和渗透率曲线计算出反映储集层差异的参数,在根据孔隙度和渗透率曲线计算的反映储集层差异的参数对储集层进行分类的基础上,针对孔隙结构中等的第II类岩石,利用从含烃岩石的核磁共振测井T2谱中获取的参数,构造出100%饱含水状态下的核磁共振T2谱,以利用构造的核磁共振T2谱连续定量评价含烃储集层岩石的孔隙大小及其分布。 | ||
搜索关键词: | 一种 含烃储集层 核磁共振 测井 t2 形态 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种含烃储集层核磁共振测井T2谱形态校正方法,其特征在于:所述方法依据实际测量的含烃储集层的核磁共振测井T2谱,通过孔隙度和渗透率曲线计算出反映储集层差异的参数,将储集层划分为三类,针对第II类储集层,首先设定7个不同的T2弛豫时间,将实际测量的核磁共振测井T2谱划分为8个部分,计算出8个孔隙度Bin分量,其次利用最佳的T2截止值将核磁共振测井T2谱划分为小孔隙部分和大孔隙部分,建立大孔隙部分不同T2弛豫时间所对应的幅度与8个孔隙度Bin分量之间的函数关系,然后利用该函数关系从实际测量的核磁共振测井资料中计算出不同弛豫时间下的核磁共振幅度,最后将计算的大孔隙部分核磁共振幅度与小孔隙部分的核磁共振幅度进行组合,得到含烃储集层校正后的核磁共振幅度;根据组合后的核磁共振幅度和与之对应的T2弛豫时间,绘制出含烃储集层校正后100%饱含水状态下的核磁共振测井T2谱,实现对实际测量的含烃储集层核磁共振测井T2谱进行校正的目的;所述方法包括以下步骤:1)利用核磁共振测井仪器采集数据,并对采集的数据进行处理,得到含烃储集层核磁共振测井T2谱以及相应深度的孔隙度和渗透率曲线;2)根据不同核磁共振测井仪器的特点和布点方式,确定出M个核磁共振T2弛豫时间值;3)利用孔隙度和渗透率曲线,计算反映储集层特征差异的参数
并按照如下标准将储集层划分为三类,以确定需要进行核磁共振测井T2谱校正的储集层段;储集层类型的划分标准如下:I类储集层:
II类储集层:
III类储集层:
式中:K为储集层渗透率,mD;
为储集层孔隙度,%;4)采集目标储集层典型岩心样品进行核磁共振实验,获取各岩心的T2截止值,采用统计分析的方法,获取所有岩心样品的统一T2截止值,确定目标储集层的最佳T2截止值;5)对于第I类储集层和第III类储集层,孔隙含烃对核磁共振测井T2谱形态不会造成影响,无需对核磁共振T2谱进行校正;对于第II类储集层,采用如下方法进行校正,获取100%饱含水状态下的T2谱:a)给定7个不同的T2弛豫时间,将实际测量的含烃储集层的核磁共振测井T2谱划分为8个部分,然后计算出8个孔隙度Bin分量;b)根据确定的最佳T2截止值将核磁共振测井T2谱划分为小孔隙部分T2谱和大孔隙部分T2谱两个部分;对于小孔隙部分T2谱,孔隙含烃对其形态不会造成影响,无需做T2谱形态校正,只对大孔隙部分T2谱进行形态校正;c)建立大孔隙部分不同弛豫时间下核磁共振T2谱的幅度与8个孔隙度Bin分量之间的函数关系,利用该函数关系从实际测量的核磁共振测井资料中计算出不同弛豫时间下的核磁共振幅度;d)将计算的大孔隙部分不同弛豫时间下的核磁共振幅度与小孔隙部分的核磁共振幅度进行组合,即得到M个校正后的100%饱含水状态下的核磁共振幅度;6)根据组合后的核磁共振幅度和与之对应的T2弛豫时间,绘制出校正后100%饱含水状态下的核磁共振T2谱。
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