[发明专利]一种I型裂纹的应力强度因子测定方法有效

专利信息
申请号: 201611051027.9 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN107064288B 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 薛楠;曾晨晖;边智;胡腾越;孙胜;邵将;杜鑫 申请(专利权)人: 中国航空综合技术研究所
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 陈宏林
地址: 100028*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种I型裂纹的应力强度因子测定方法,该方法的步骤如下:步骤一、采用无损检测技术确定结构中I型裂纹的位置,然后测量I型裂纹的表面长度αL;步骤二、沿I型裂纹的表面长度αL,测量I型裂纹的埋藏深度αD;步骤三、对结构中的I型裂纹进行受力分析,确定外加应力σ;步骤四、根据步骤一、步骤二中确定的I型裂纹的几何特征,通过查询相关材料手册获得I型裂纹的形状因子Y;步骤五、以I型裂纹的表面长度αL、埋藏深度αD、外加应力σ和形状因子Y作为输入,采用解析计算法/数值法求解I型裂纹的应力强度因子。该方法工序简单但精度很高,能够有效提高I型应力强度因子计算结果的精度和置信度。
搜索关键词: 一种 裂纹 应力 强度 因子 测定 方法
【主权项】:
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