[发明专利]基于空间光调制器的结构探测共焦显微成像方法及装置

摘要

基于空间光调制器的结构探测共焦显微成像方法与装置。主要解决了以往共焦显微成像图片采集速率低、图像处理时间长的问题。该方法在共焦扫描显微系统中引入结构探测方法，采用空间光调制器模拟结构探测函数，对探测光斑进行调制，之后利用光电探测器测量调制后的光强，得到与待测样品采样点相对应的光强值，结合共焦显微系统的扫描机制，可实现对待测样品的三维成像；本发明还提供了一种适用于上述方法的测量装置，以透射式空间光调制器及光电探测器来实现结构探测，具备分辨率高，成像速度高的特点。

主权项

1.一种基于空间光调制器的结构探测共焦显微成像方法，在激光共聚焦显微成像系统的探测光路上实现结构探测，其特征在于：激光器(1)发出的光束经第一透镜(2)会聚，会聚光束透射过分光镜(3)聚焦至待测样品(4)上一点，待测样品在该点的反射光从原光路返回，经分光镜(3)反射至探测光路，该点样品反射光聚焦至空间光调制器的调制面，即样品单点成像在空间光调制器的调制面上，经振幅调制后的样品反射光经第二透镜(6)会聚至光电探测器(7)，被接收并转换为电信号输出，即可得到样品在该点的灰度值；其中，空间光调制器调制面上产生符合结构探测函数所描述的图像，实现反射光斑的光强分布与结构探测函数相乘后再求和。