[发明专利]一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法

摘要

本发明公开了一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，基于用户层、装置层、测试用例层、测试对象层的分布式架构，用户层包括测试工具和输出测试报告，装置层包括待测装置、配置工具、管理插件和待测插件，测试用例层包括测试元件库、测试脚本库，测试对象层包括各种待测插件库。本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，具有良好的应用前景。

主权项

1.一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤(A)，用户层调用测试工具构建测试对象层的多个待测插件库；步骤(B)，用户层根据待测插件库的功能，模块化选择测试元件，构建多个测试元件库，构建多个位于测试用例层的测试元件库；步骤(C)，用户层根据不同种类的微处理器插件类型，配置模块化的测试模板；步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，自动构建待测插件测试程序；步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息；步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中；步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告。