[发明专利]利用涡旋光阵列奇异特性测量物体离面位移的方法及系统有效
| 申请号： | 201611016625.2 | 申请日： | 2016-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN106767427B | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 孙平;薛婧璇;赵冉 | 申请（专利权）人： | 山东师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 250014 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了利用涡旋光阵列奇异特性测量物体离面位移的方法及系统，利用三束具有不同波前倾斜的平面波干涉产生光学涡旋阵列，作为物光；在光路中加入平面波作为参考光；当物光与参考光干涉时，在点阵中形成密集的“叉”形涡旋光干涉条纹；采集物体变形前后两幅干涉条纹，运用光流场理论，即得到两帧连续图像之间离面位移相位信息。本发明利用了涡旋阵列中的密集干涉条纹，较点阵测量方法提高了条纹空间频率，进而提高了测量灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 涡旋 离面位移 测量 点阵 干涉条纹 奇异特性 参考光 光阵列 物光 条纹空间频率 光干涉条纹 平面波干涉 光学涡旋 连续图像 物体变形 相位信息 光流场 灵敏度 平面波 光路 采集 干涉 | ||
【主权项】：
1.利用涡旋光阵列奇异特性测量物体离面位移的方法，其特征是，包括以下步骤：利用三束具有不同波前倾斜的平面波干涉产生光学涡旋阵列，作为物光；在光路中加入平面波作为参考光；当物光与参考光干涉时，在点阵中形成密集的“叉”形涡旋光干涉条纹；采集物体变形前后两幅干涉条纹，运用光流场理论，即得到两帧连续图像之间离面位移相位信息。
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