[发明专利]光检测电路在审
| 申请号： | 201611010251.3 | 申请日： | 2016-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN106407844A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 赵英瑞 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F21/71 | 分类号： | G06F21/71 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光检测电路，包括一基准电压电路，用于产生一基准电压；一感光二极管，根据光照情况不同产生不同的光生电压；该光生电压对于PN结是正向偏置的，即P端电压高于N端电压；一比较器，对输入的基准电压和光生电压进行比较，判断电路受到的光照情况。本发明具有更高的反应速度，且所占用的芯片面积更小；可以使用多个光检测电路分散放在芯片中，安全性更高，具有更好的抗光攻击性能。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种光检测电路，其特征在于，包括：一基准电压电路，用于产生一基准电压；一感光二极管，根据光照情况不同产生不同的光生电压；该光生电压对于PN结是正向偏置的，即P端电压高于N端电压；一比较器，对输入的基准电压和光生电压进行比较，判断电路受到的光照情况。
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