[发明专利]溅射锡靶和硫化铜靶制备铜锡硫薄膜电池的方法有效
申请号: | 201611002477.9 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN106449812B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 王书荣;杨敏;蒋志;李志山;刘思佳;陆熠磊;郝瑞亭 | 申请(专利权)人: | 云南师范大学 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/072;H01L31/18;C23C14/35;C23C14/18;C23C14/06;C23C14/58 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 李冉 |
地址: | 650500 云南省昆明市呈*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: |
本发明公开了一种采用射频磁控溅射锡(Sn)靶和硫化铜(CuS)靶制备铜锡硫(Cu |
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搜索关键词: | 溅射 硫化铜 制备 铜锡硫 薄膜 电池 方法 | ||
【主权项】:
一种采用溅射锡靶和硫化铜靶制备铜锡硫薄膜及电池的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)铜锡硫薄膜预制层的制备:在钠钙玻璃上或是镀钼的钠钙玻璃上用射频磁控溅射法溅射锡金属层,然后在锡金属层上溅射硫化铜制备出铜锡硫薄膜的预制层;(2)预制层的软退火:将铜锡硫薄膜的预制层放置在退火炉中,氮气作为保护气,在260℃下对预制层进行低温退火,保持30分钟后让其自然冷却至室温;(3)高温硫化:将软退火后的预制层取出,放置在封闭的石墨舟中,以硫粉作为硫源,硫化炉的工作压强为5000Pa,硫化温度为570℃保持15分钟,硫化结束后自然冷却到室温,得到铜锡硫薄膜;(4)采用化学水浴法在铜锡硫薄膜上沉积一层50nm厚的CdS缓冲层,然后用溅射法制备200nm左右的ZnO/AZO窗口层,最后采用热蒸发法蒸镀上Ni‑Al电极制备出铜锡硫薄膜电池。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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