[发明专利]一种晶体硅太阳能电池的减反射膜及其制备方法在审
| 申请号: | 201610999855.9 | 申请日: | 2016-11-14 |
| 公开(公告)号: | CN106486567A | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
| 发明(设计)人: | 袁中存;党继东 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L21/314;H01L21/67 |
| 代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 陆金星 |
| 地址: | 215129 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种晶体硅太阳能电池的减反射膜的制备方法,包括如下步骤(1)采用PECVD方法在硅片表面沉积形成氮化硅膜;(2)将步骤(1)的硅片在氢气或氨气气氛下进行高温退火处理,(3)采用PECVD方法在步骤(2)的硅片表面沉积形成氮氧化硅膜;即可得到由氮化硅膜和氮氧化硅膜层叠组成的双层减反射膜。实验证明,与现有的单层氮化硅膜或双层叠层氮化硅膜相比,本发明的双层减反射膜具有更低的折射率,且能更好的减少电池片结区和发射区的缺陷,增加少子寿命和电池片的效率,最终制得的电池片具有更好的电性能和光电转换效率。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 晶体 太阳能电池 减反射膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种晶体硅太阳能电池的减反射膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(1) 采用PECVD方法在硅片表面沉积形成氮化硅膜;(2) 将步骤(1)的硅片在氢气或氨气气氛下进行高温退火处理;所述氢气的流量控制在500~1200 sccm,或者,所述氨气的流量控制在500~1200 sccm;(3) 采用PECVD方法在步骤(2)的硅片表面沉积形成氮氧化硅膜;其所用的反应气体为二氧化氮和硅烷;即可得到由氮化硅膜和氮氧化硅膜层叠组成的双层减反射膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





