[发明专利]一种用于透射电子显微镜下原位力学加载工具的制备方法有效
申请号: | 201610994827.8 | 申请日: | 2016-11-11 |
公开(公告)号: | CN106525584B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 单智伟;张丹利;刘博宇 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;B81C99/00 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 何会侠 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种用于透射电子显微镜下原位力学加载工具的制备方法,包括:测量毛坯压头根部与顶端连接产生的两个平面的宽度比,即L1/L2;将的毛培压头,放入样平台上,旋转样品台,直至在离子成像模式下,成像的压头根部与顶端连接产生的两个平面的宽度比与步骤一中的L1/L2保持一致;偏转离子束入射角度,直至离子束成像模式下,所成像的压头边顶部的边平行水平方向,设此时离子束入射偏转角度为α;成像模式下切制出压头大致轮廓;样品台旋转180°,将离子束偏转角度恢复至初始角度,成像模式下,对雏形压头进行减薄;将样品台旋转180°,离子束偏转角度设为α,切制得到加载工具;本发明具有重复性好、压头与样品接触良好的优点。 | ||
搜索关键词: | 压头 加载工具 透射电子显微镜 偏转 离子束偏转 成像模式 顶端连接 宽度比 离子束 平面的 样品台 切制 制备 成像 力学 离子束成像 旋转样品台 测量毛坯 角度恢复 离子成像 平行水平 样品接触 入射角 放入 减薄 入射 | ||
【主权项】:
1.一种用于透射电子显微镜下原位力学加载工具的制备方法,具体方法包括下述步骤:步骤一:测量将安装有毛坯压头的测试样品杆水平放置,测量毛坯压头根部与顶端连接产生的两个平面的宽度比,即L1/L2;进一步的,将毛坯压头(1)通过螺纹连接在样品杆(2)的压头支撑杆上;将样品杆(2)水平放置,用导电笔在毛坯压头(1)的顶端做标记(3),用激光共聚焦显微镜对压头部分进行拍照,获得俯视图,在俯视图上测量压头两平面的宽度比L1/L2;步骤二:成像将测量后的毛培压头取下,放入聚焦离子束切割设备腔室的样平台上,旋转样品台,直至在离子成像模式下,成像的压头根部与顶端连接产生的两个平面的宽度比与步骤一中的L1/L2保持一致;进一步的,将测量后的毛培压头取下,放入聚焦离子束切割设备腔室的45°样平台(8)上,使得标注有标记(3)的面朝上,以保证在离子束下看到压头的一侧与步骤一中测量的为同侧,调整毛坯压头(1)的高度,使得毛坯压头(1)处于电子束(11)和离子束(12)的共心高度位置;样品台角度设置为7°,选择适当的束流,将离子像调节清晰;旋转样品台,直至在离子成像模式下,成像的压头根部与顶端连接产生的两个平面的宽度比L3/L4与步骤一中的L1/L2保持一致;步骤三:加工偏转离子束入射角度,直至离子束成像模式下,所成像的压头边顶部的边平行水平方向,设此时离子束入射偏转角度为α;成像模式下切制出压头大致轮廓,得到雏形压头;样品台旋转180°,将离子束偏转角度恢复至初始角度,成像模式下,对雏形压头进行减薄,得到减薄压头;将样品台旋转180°,离子束偏转角度设为α,切制得到加载工具;进一步的,偏转离子束入射角度,直至离子束成像模式下,所成像的压头边顶部的边平行水平方向,设此时离子束入射偏转角度为α;成像模式下切制出压头大致轮廓,得到雏形压头(13);将样品台(8)旋转180°,将离子束偏转角度恢复至初始角度,对雏形压头(13)进行减薄;将样品台(8)旋转180°,离子束偏转角度设为α,得到加载工具(10)。
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