[发明专利]测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法有效
| 申请号: | 201610993220.8 | 申请日: | 2016-11-11 |
| 公开(公告)号: | CN106546324B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
| 发明(设计)人: | 王海凤;林剑;庄松林 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
| 主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
| 地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法,利用分束镜将被测光分成两部分,分别被光功率计和刀锋探测器在扫描过程中同步纪录,在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离;使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域,然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描;如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布,则旋转刀锋一定角度,重复扫描,直到刀锋旋转了180度为止;使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构,得到光束内部强度的三维分布图。设计出适用于测量所有偏振态光强的刀锋,测量小光束内部光强分布不受光偏振状态和光功率波动的影响,适用范围广,稳定性高。 | ||
| 搜索关键词: | 刀锋 测量 三维光强分布 偏振态 探测器 计算机数据处理系统 计算机程序控制 手动三维平台 光功率波动 三维扫描台 测量装置 待测区域 光功率计 光强分布 光轴方向 偏振态光 偏振状态 强度分布 三维扫描 扫描过程 外界隔离 旋转对称 重复扫描 分布图 分束镜 隔离罩 测光 受光 重构 三维 扫描 纪录 | ||
【主权项】:
1.一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)在100微米厚的玻璃基片的其中一个表面上镀200纳米厚的铬薄膜,并在薄膜中间位置留出一条没有镀膜的狭缝,其宽度远大于被测光束的横截面尺度,长度与玻璃基片边长相同的狭缝,狭缝的两条边缘为两条刀锋;为了能够探测纵向偏振光的光强分布,光功率计探头表面没有任何保护层,玻璃基片与光功率计探头探测面相贴合,没有镀膜的玻璃基片一面与光功率计探头探测器接触,光功率计探头和镀有铬薄膜的玻璃基片组成刀锋探测器;2)刀锋探测器固定在旋转平台上,旋转平台又固定在手动三维移动平台上,手动三维移动平台从下到上由手动一维移动平台底座平台、平行座平台和竖直座平台组成,底座平台固定在三维纳米移动平台上,旋转平台固定在竖直座平台上;3)在被探测光束的传播路径上放置一个分束镜,反射光束垂直入射光功率计,反射光强度由光功率计测量,透射光束垂直入射刀锋探测器,透射光强度在扫描过程中由刀锋探测器同步纪录;4)在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离;5)使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域,然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描;6)如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布,则旋转刀锋一定角度,重复步骤5),直到刀锋旋转了180度为止;7)扫描结束后,使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构,得到光束内部强度的三维分布图。
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