[发明专利]测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法有效

专利信息
申请号: 201610993220.8 申请日: 2016-11-11
公开(公告)号: CN106546324B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 王海凤;林剑;庄松林 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/04
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法,利用分束镜将被测光分成两部分,分别被光功率计和刀锋探测器在扫描过程中同步纪录,在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离;使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域,然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描;如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布,则旋转刀锋一定角度,重复扫描,直到刀锋旋转了180度为止;使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构,得到光束内部强度的三维分布图。设计出适用于测量所有偏振态光强的刀锋,测量小光束内部光强分布不受光偏振状态和光功率波动的影响,适用范围广,稳定性高。
搜索关键词: 刀锋 测量 三维光强分布 偏振态 探测器 计算机数据处理系统 计算机程序控制 手动三维平台 光功率波动 三维扫描台 测量装置 待测区域 光功率计 光强分布 光轴方向 偏振态光 偏振状态 强度分布 三维扫描 扫描过程 外界隔离 旋转对称 重复扫描 分布图 分束镜 隔离罩 测光 受光 重构 三维 扫描 纪录
【主权项】:
1.一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)在100微米厚的玻璃基片的其中一个表面上镀200纳米厚的铬薄膜,并在薄膜中间位置留出一条没有镀膜的狭缝,其宽度远大于被测光束的横截面尺度,长度与玻璃基片边长相同的狭缝,狭缝的两条边缘为两条刀锋;为了能够探测纵向偏振光的光强分布,光功率计探头表面没有任何保护层,玻璃基片与光功率计探头探测面相贴合,没有镀膜的玻璃基片一面与光功率计探头探测器接触,光功率计探头和镀有铬薄膜的玻璃基片组成刀锋探测器;2)刀锋探测器固定在旋转平台上,旋转平台又固定在手动三维移动平台上,手动三维移动平台从下到上由手动一维移动平台底座平台、平行座平台和竖直座平台组成,底座平台固定在三维纳米移动平台上,旋转平台固定在竖直座平台上;3)在被探测光束的传播路径上放置一个分束镜,反射光束垂直入射光功率计,反射光强度由光功率计测量,透射光束垂直入射刀锋探测器,透射光强度在扫描过程中由刀锋探测器同步纪录;4)在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离;5)使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域,然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描;6)如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布,则旋转刀锋一定角度,重复步骤5),直到刀锋旋转了180度为止;7)扫描结束后,使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构,得到光束内部强度的三维分布图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610993220.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top