[发明专利]一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法

摘要

本发明为一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法，首先使用图像分割算法对拍摄到的原始含绝缘子串的图像进行图像分割，剔除积雪及输电线等背景干扰，将图像分割成多个互不联通的区域；然后，将这些互不联通的区域与绝缘子串库中的绝缘子进行ASIFT匹配，匹配点个数高于设定阈值的即为绝缘子串区域；接着，将识别出的绝缘子串区域进行绝缘子单盘片分割，得到多个绝缘子小盘片；最后，利用稀疏表示分类器对每个绝缘子小盘片进行分类标识，识别单个小盘片是否存在掉串缺陷，并在原始图像中进行定位标识。相比其他方法具有更高的识别精度、且缺陷定位准确。

主权项

一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法，其特征在于包括以下步骤：第一步，手工提取多个绝缘子可见光图像的单个盘片组成样本库，包括正常无故障及带有掉串缺陷的两种；第二步，提取样本库中所有样本的HOG特征，得到样本的HOG特征矩阵H；第三步，对H用PCA降维构造超完备字典D；第四步，对于待检测绝缘子串，提取所有单个盘片Blockij，i＝1,2,...,n，j＝1,2,...,m，n表示待检测绝缘子串的个数，m表示每个绝缘子串的盘片个数；第五步，对每个Blockij，计算其HOG特征，并用PCA进行降维，得到降维后的特征向量HPij；第六步，将HPij输入到稀疏表示分类器SRC中计算其与D矩阵中正常绝缘子盘片类和掉串绝缘子盘片类的误差，Blockij对应误差较小的类别，以此判断Blockij是否存在掉串缺陷；第七步，如果Blockij为掉串缺陷，则记录其位置，待所有Blockij检测完毕后统一标记掉串缺陷位置。