[发明专利]芯片测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201610985458.6 | 申请日： | 2016-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN106556793B | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 周彦杰;陈光胜 | 申请（专利权）人： | 上海东软载波微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彦君;吴敏 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片测试系统及测试方法，所述芯片内部设置有控制器、Flash存储器、SRAM以及BIST电路，所述测试方法包括：所述控制器从所述Flash存储器中读取适于对所述SRAM进行测试的配置信息，所述配置信息由测试机写入的，所述测试机与所述芯片耦接；所述控制器将所述配置信息写入至与所述BIST电路对应的专用寄存器中；所述控制器向所述专用寄存器写入测试触发信息，所述BIST电路在读取到所述测试触发信息时，自动对所述SRAM进行测试；所述控制器接收所述BIST电路发送的测试结果，对所述测试结果进行运算处理，并将所述运算处理对应的运算结果发送至所述测试机。采用上述方案，可以提高芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，所述芯片内部设置有控制器、Flash存储器、SRAM以及BIST电路，其特征在于，所述测试方法包括：所述控制器从所述Flash存储器中读取适于对所述SRAM进行测试的配置信息，所述配置信息由测试机写入，所述测试机与所述芯片耦接；所述控制器将所述配置信息写入至与所述BIST电路对应的专用寄存器中；所述控制器向所述专用寄存器写入测试触发信息，所述BIST电路在读取到所述测试触发信息时，自动对所述SRAM进行测试；所述控制器接收所述BIST电路发送的测试结果，对所述测试结果进行运算处理，并将所述运算处理对应的运算结果发送至所述测试机。
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