[发明专利]一种材料低频噪声信息采集用适配器

摘要

本发明提供了一种材料低频噪声信息采集用适配器，适用于导体、半导体和绝缘材料的低频噪声信息测试。所述适配器中的支架杆固定在支架平台上，转向杆与支架杆相互嵌合，弹簧两端分别与定位杆固定连接；双向转杆分别与转向杆、样品上夹层相互嵌合；双向转杆与转向杆之间有一转动角α；电压接入‑输出端口固定旋柱固定于支架杆上，与旋转固定环相契合，并与样品下夹层相连接；温控‑测压组件与外部温控和压力设备相连。本发明配合电压偏置器对材料上下表面施加均匀电压，激发材料内部低频噪声，并将噪声信息传输到噪声信息提取装置中，从而对材料的性能进行表征和分析。本发明具备加压和加温功能，可用于高温、加压环境下的材料性能模拟评估测试中。

主权项

一种材料低频噪声信息采集用适配器，其特征在于：所述的适配器含有样品上夹层制动组件、样品上夹层（17）、样品下夹层（19）、支架平台（24）、支架平台支撑柱、温控‑测压组件（21）、温控‑测压连接线（23）、电压接入‑输出端口（22）、电压接入‑输出端口固定旋柱（25）和旋转固定环（26），其中，所述的样品上夹层制动组件包括弹簧定位杆Ⅰ（11）、弹簧定位杆Ⅱ（13）、弹簧（12）、转向杆（14）、支架杆（15）和双向转杆（16）；其连接关系是，所述的支架平台（24）的四端设有螺纹孔，四个支架平台支撑柱通过螺纹分别与支架平台（24）的螺纹孔相契合，用于调节支架平台（24）的高度；所述的支架杆（15）固定设置在支架平台（24）上；所述的转向杆（14）顶端设置有方槽、中段设置有通孔，转向杆（14）通过通孔与支架杆（15）相互嵌合；所述的弹簧定位杆Ⅰ（11）固定于支架杆（15）一侧的支架平台（24）上，弹簧定位杆Ⅱ（13）固定于转向杆（14）上，弹簧定位杆Ⅰ（11）与弹簧定位杆Ⅱ（13）上下对应设置，弹簧（12）两端分别与弹簧定位杆Ⅰ（11）、弹簧定位杆Ⅱ（13）连接；所述的双向转杆（16）两端开孔，双向转杆（16）的一端开孔与转向杆（14）的方槽相互嵌合，双向转杆（16）与转向杆（14）之间有一转动角α；所述的电压接入‑输出端口固定旋柱（25）固定设置于支架杆（15）另一侧的支架平台（24）上，电压接入‑输出端口固定旋柱（25）为空心圆筒，上表面闭合，电压接入‑输出端口固定旋柱（25）上表面侧方设置有一孔，电压接入‑输出端口固定旋柱（25）外筒面上下两端均设置有螺纹结构；所述的样品下夹层（19）由金属电极板和下端侧方开孔圆筒构成，样品下夹层（19）的下端圆筒与电压接入‑输出端口固定旋柱（25）螺纹连接；所述的电压接入‑输出端口固定旋柱（25）与样品下夹层（19）之间设置有温控‑测压组件（21）；由温控件和平板式测压计构成的温控‑测压组件（21）位于样品下夹层（19）的下端圆筒内；所述的温控‑测压组件（21）上表面与样品下夹层（19）的金属电极板紧密贴合，下表面与电压接入‑输出端口固定旋柱（25）的上表面紧密贴合；所述的样品下夹层（19）上方对应设置有样品上夹层（17）；所述的样品上夹层（17）由电极板和上端开孔板构成，双向转杆（16）的另一端开孔与样品上夹层（17）的上端开孔板相互嵌合；所述的电压接入‑输出端口（22）的负极与电压接入‑输出端口固定旋柱（25）下端连接；所述的温控‑测压连接线（23）依次贯穿样品下夹层（19）和支架平台（24），温控‑测压连接线（23）一端与温控‑测压组件（21）连接，另一端与外部的温度控制和读出设备和压力测试设备相连；所述的旋转固定环（26）设置在电压接入‑输出端口固定旋柱（25）的外环面，旋转固定环（26）的内螺纹与电压接入‑输出端口固定旋柱（25）的外螺纹相契合；所述的电压接入‑输出端口（22）的正极通过金属导线与样品上夹层（17）相连接，金属导线贯穿电压接入‑输出端口固定旋柱（25）的上表面侧方开孔和支架平台（24）；样品（18）置于样品上夹层（17）与样品下夹层（19）之间。