[发明专利]一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统有效
申请号: | 201610958264.7 | 申请日: | 2016-11-03 |
公开(公告)号: | CN106483373B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 薛敏;潘时龙;衡雨清 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 朱小兵;刘莎 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种电光调制器频率响应测量方法及测量系统,采用光分束器将光载波信号分成上下两路,上路采用马赫‑曾德尔调制器将微波源1输出的微波信号调制到光载波上,生成抑制载波的双边带信号,并在放大后用作泵浦信号;下路通过待测电光调制器将微波源2输出的微波信号调制到光载波上,生成双边带信号。调节微波源1与微波源2的频率,使得布里渊介质中待测电光调制器所输出的双边带信号形成单边带信号。光电探测器将单边带信号转换为电信号,并由幅相接收机提取该电信号的幅度和相位信息,从而获取待测电光调制器和光电探测器的联合响应;移除光电探测器的频率响应即获得待测电光调制器的频率响应。 | ||
搜索关键词: | 一种 电光 调制器 频率响应 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种电光调制器频率响应测量方法,其特征在于,包括以下步骤:首先,光分束器将光载波分成上下两路;马赫‑曾德尔调制器将第一微波信号调制于上路光载波上,通过调节马赫‑曾德尔调制器上加载的直流偏置,使马赫‑曾德尔调制器输出抑制载波的双边带信号,双边带信号经过光放大器放大后再通过光环形器作为泵浦信号反向进入布里渊增益介质;待测电光调制器将第二微波信号调制于下路光载波上,生成双边带待测光信号,双边带待测光信号正向进入布里渊增益介质;泵浦信号在布里渊增益介质中激励出布里渊效应,使得双边带待测光信号的+1阶边带被放大,‑1阶边带受到抑制,生成单边带信号;单边带信号通过光环形器输出后通过光电探测器转换成电信号,其幅度与相位信息通过幅相接收机提取;以第一、第二微波信号作为参考,提取电信号的幅度和相位信息,得到待测电光调制器和光电探测器的联合响应;移除光电探测器的频率响应,即可获得待测电光调制器的频率响应。
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