[发明专利]应用于太赫兹成像系统的透镜可调节测试装置及方法

摘要

本发明涉及一种应用于太赫兹成像系统的透镜可调节测试装置及方法属于太赫兹测试领域。通过本发明的方法能够得到透镜的光轴偏离检波单元的中心不同角度或距离时的测试数据，从而得到透镜位置与检波单元的方向图的对应关系，为太赫兹阵列成像系统中检波芯片的布局提供依据；本发明采用了透镜可移动的结构，解决了现有技术中透镜和检波单元的天线难以中心对准的问题。同时利用透镜的移动，又可以完成在各个偏光轴位置的透镜与检波单元的整体方向图测试，为阵列成像提供依据。

主权项

1.一种应用于太赫兹成像系统的透镜可调节测试装置，其特征在于：该装置包括太赫兹信号源、透镜支架、三维微调平台、检波单元支架、整体旋转平台和频谱仪；所述的透镜支架用于固定透镜；所述的透镜支架固定安装在三维微调平台上，三维微调平台固定安装在整体旋转平台上；所述的检波单元支架用于固定安装检波单元，检波单元支架固定安装在整体旋转平台上；所述的频谱仪与固定安装在检波单元支架上的检波单元通过线缆连接；在对检波单元天线的方向图进行测试时，整体旋转平台用于带动透镜和检波单元整体在水平面上进行旋转；所述的三维微调平台用于调节透镜相对于检波单元的位置，以测试透镜与检波单元的相对位置对成像性能的影响；所述的太赫兹信号源发出太赫兹信号后，太赫兹信号通过透镜支架上放置的透镜进行汇聚，经过汇聚后的太赫兹信号传输到检波单元支架上的检波单元上，检波单元对接收到的太赫兹信号进行检波，得到中频信号，中频信号输出到频谱仪，在频谱仪上得到输出的中频信号的功率。