[发明专利]验证测例判断方法在审

专利信息
申请号: 201610928389.5 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN106383788A 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 朱思良 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种验证测例判断方法,在仿真阶段,测例驱动验证环境发出激励,验证环境检测待测模块的响应是否正确;在所有激励全部发送,响应收集完毕后,如果功能覆盖率不能达到100%,则认为测例没有按照预设发出激励,发出测例错误仿真不通过的信号。本发明能够自动判定测例是否已经完成需要的功能,减少验证失误。
搜索关键词: 验证 判断 方法
【主权项】:
一种验证测例判断方法,其特征在于:在仿真阶段,测例驱动验证环境发出激励,验证环境检测待测模块的响应是否正确;在所有激励全部发送,响应收集完毕后,如果功能覆盖率不能达到100%,则认为测例没有按照预设发出激励,发出测例错误仿真不通过的信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司,未经上海华虹集成电路有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610928389.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top