[发明专利]验证测例判断方法在审
申请号: | 201610928389.5 | 申请日: | 2016-10-31 |
公开(公告)号: | CN106383788A | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 朱思良 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种验证测例判断方法,在仿真阶段,测例驱动验证环境发出激励,验证环境检测待测模块的响应是否正确;在所有激励全部发送,响应收集完毕后,如果功能覆盖率不能达到100%,则认为测例没有按照预设发出激励,发出测例错误仿真不通过的信号。本发明能够自动判定测例是否已经完成需要的功能,减少验证失误。 | ||
搜索关键词: | 验证 判断 方法 | ||
【主权项】:
一种验证测例判断方法,其特征在于:在仿真阶段,测例驱动验证环境发出激励,验证环境检测待测模块的响应是否正确;在所有激励全部发送,响应收集完毕后,如果功能覆盖率不能达到100%,则认为测例没有按照预设发出激励,发出测例错误仿真不通过的信号。
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