[发明专利]一种p型CuNSnO非晶氧化物半导体薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610914013.9 申请日: 2016-10-20
公开(公告)号: CN106711199B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 吕建国;于根源 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L29/24 分类号: H01L29/24;H01L21/02;H01L29/786;C23C14/35;C23C14/08
代理公司: 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 代理人: 张宇娟;王煦丽
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种p型CuNSnO非晶氧化物半导体薄膜,其中N元素为非III族元素,具有较低标准电势,与O有高的结合能,形成的氧化物为高阻氧化物,且其禁带宽度大于3eV,为Si、Ge、Hf、Zr、Mg、Mn、Fe、Nb、V、Sr、Ba、Rh、Co、Ca中任一种;且Cu为+1价,为材料的基体元素,与O结合形成材料的p型导电特性;N与O结合,在基体中作为空穴浓度的控制元素;Sn为+2价,与O结合也提供p型导电,且具有球形电子轨道,在非晶状态下电子云高度重合,起到空穴传输通道的作用。本发明还公开了制备p型CuSrSnO非晶氧化物半导体薄膜的方法,利用CuSrSnO陶瓷片为靶材,采用射频磁控溅射方。制得的,p型CuSrSnO非晶薄膜的空穴浓度达到1013~1015cm‑3。本发明所公开的薄膜可以用于P型非晶薄膜晶体管。
搜索关键词: 一种 cunsno 氧化物 半导体 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
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