[发明专利]阶梯孔深度测量装置在审

专利信息
申请号: 201610911220.9 申请日: 2016-10-20
公开(公告)号: CN106441031A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 李胜辉;张碧玉;任超;杨超;闫磊 申请(专利权)人: 中核(天津)机械有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 天津市宗欣专利商标代理有限公司12103 代理人: 胡恩河;王龑
地址: 300300 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种阶梯孔深度测量装置,包括深度规主体,所述深度规主体轴线方向形成阶梯装配孔,所述阶梯装配孔中滑动设置有测杆,所述测杆上端形成柱状套装弹簧的凸台,下端形成探入待测阶梯孔的测量柱,所述测量柱下端形成圆环,所述圆环端面形成测量锥面,所述深度规主体上端设置有端盖,所述端盖的通孔中设置有百分表,所述百分表的百分表测量杆与凸台相接触,所述弹簧的自由端压在端盖的端面上。本发明中测量锥面的斜度大于待测阶梯孔的阶梯面斜度,使测量时测杆的锐边能够测到阶梯孔的最深处,保证了深度测量的准确性,配置校准组件,能够根据百分表指针左右摆动的格数,结合公差带要求直接做出合格性判定,所需工时短。
搜索关键词: 阶梯 深度 测量 装置
【主权项】:
一种阶梯孔深度测量装置,包括深度规主体(8),其特征在于:所述深度规主体(8)轴线方向形成阶梯装配孔,所述阶梯装配孔中滑动设置有测杆(7),所述测杆(7)上端形成柱状套装弹簧(6)的凸台,下端形成探入待测阶梯孔(12)的测量柱,所述测量柱下端形成圆环,所述圆环端面形成测量锥面,所述深度规主体(8)上端设置有端盖(3),所述端盖(3)的通孔中设置有百分表(1),所述百分表(1)的百分表测量杆(2)与凸台相接触,所述弹簧(6)的自由端压在端盖(3)的端面上。
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