[发明专利]一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体在审

专利信息
申请号: 201610907123.2 申请日: 2016-10-18
公开(公告)号: CN106323792A 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 任无;史晓莉 申请(专利权)人: 成都尚智恒达科技有限公司
主分类号: G01N3/60 分类号: G01N3/60;G01N3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610047 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体,涉及电子产品测试领域,安装有半导体制冷装置,包括外壳体,所述外壳体内设置两个独立的内壳体,所述内壳体内从上到下依次设有限位板、活动封板以及密封环板,两个内壳体的相对面上限位板的上方均设有安装缺口,所述半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处,外壳体与内壳体之间以及两个内壳体与半导体制冷装置之间的空隙处填有保温层;本发明的双层结构以及填充保温层的设置,加上半导体制冷装置的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体的安装缺口处的设置相结合,从而解决了现有技术中微型冷热冲击试验装置的外部壳体的设计存在的难点。
搜索关键词: 一种 组合式 微型 冷热 冲击 试验装置 壳体
【主权项】:
一种组合式微型冷热冲击试验装置壳体,安装有半导体制冷装置(8),其特征在于:包括外壳体(1),所述外壳体(1)内设置两个独立的内壳体(2),所述内壳体(2)内从上到下依次设有限位板(5)、活动封板(4)以及密封环板(6),两个内壳体(2)的相对面上限位板(5)的上方均设有安装缺口(21),所述半导体制冷装置(8)的冷端面和热端面分别安装在两个内壳体(2)的安装缺口(21)处,外壳体(1)与内壳体(2)之间以及两个内壳体(2)与半导体制冷装置(8)之间的空隙处填有保温层(3)。
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