[发明专利]用于超高选择性的氮化物蚀刻的系统和方法有效
申请号: | 201610902633.0 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN106601612B | 公开(公告)日: | 2020-09-08 |
发明(设计)人: | 杨邓良;费萨尔·雅各布;皮利翁·帕克;海伦·H·朱;朴俊洪 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;张华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于超高选择性的氮化物蚀刻的系统和方法。一种用于选择性蚀刻衬底上的氮化硅层的方法包括将衬底布置在衬底处理室的衬底支撑件上。衬底处理室包括上室区、布置在上室区的外部的感应线圈、包括衬底支撑件的下室区和气体分配装置。气体分配装置包括与上室区和下室区流体连通的多个孔。该方法包括供应蚀刻气体混合物到上室区并且通过供给电力到感应线圈以在上室区中引燃感应耦合等离子体。该蚀刻气体混合物蚀刻氮化硅、促进二氧化硅钝化以及促进多晶硅钝化。该方法包括选择性蚀刻衬底上的氮化硅层并在预定时间段后熄灭感应耦合等离子体。 | ||
搜索关键词: | 用于 超高 选择性 氮化物 蚀刻 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于选择性蚀刻衬底上的氮化硅层的方法,其包括:将衬底布置在衬底处理室的衬底支撑件上,其中所述衬底处理室包括上室区、布置在所述上室区的外部的感应线圈、包括所述衬底支撑件的下室区和布置在所述上室区和所述下室区之间的气体分配装置,以及其中所述气体分配装置包括与所述上室区和所述下室区流体连通的多个孔;供应蚀刻气体混合物到所述上室区;通过供给电力到所述感应线圈以在所述上室区中引燃感应耦合等离子体,其中所述蚀刻气体混合物蚀刻氮化硅、促进二氧化硅钝化以及促进多晶硅钝化;选择性蚀刻所述衬底上的所述氮化硅层;并且在预定时间段后熄灭所述感应耦合等离子体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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